《微型电子测压器校准系统的合理性论证》PDF+DOC
作者:袁月华,裴东兴,张瑜
单位:北京信息科技大学
出版:《传感器世界》2011年第07期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGSJ2011070060
DOC编号:DOCCGSJ2011070069
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为确保微型电子测压器在高温、高压、高冲击的实测环境中的测试精度,微型电子测压器应用于实际测试前,都要在模拟应用环境下被校准,为了证明微型电子测压器校准系统的合理性,介绍了标准测试系统的时域静态校准,标准测试系统的动态响应特性,标准测试系统的误差要求3方面的内容。分析结果表明,使用该校准系统能保证被校准后的微型电子测压器的可靠性和测试精度,满足测试要求。
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