作者：张皓,张贵峰,牛田野,屠幼萍 单位：中国电子科技集团公司第十六研究所 出版：《低温与超导》2011年第08期 页数：5页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDWYC2011080040 DOC编号：DOCDWYC2011080049 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 随着空间技术的不断发展和超导技术的实用化，不同低温环境下绝缘材料的电气特性越来越受关注。针对低温环境中绝缘材料电气性能测试系统，文章基于Labview平台，采用闭环控制原理设计了一套温度控制系统。该系统能较精确稳定地实现对试验区域温度的控制，可以用于不同低温温度下绝缘材料的电气性能测试。

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