作者:杨军平,吴欣慧,秦长海 单位:山东省技术开发服务中心 出版:《科技信息》2010年第05期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFKJXX2010053750 DOC编号:DOCKJXX2010053759 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 目前在科技研究、工业生产等各行业中,对于位移的高精度测量都是不可或缺的。利用光栅传感器完成测量是目前的主要方法。光栅传感器利用光电转换的原理将位移转换为电信号,该信号经过整形、细分后输出给后级电路完成对信号的处理,最后得到位移大小方向。本文在分析光栅传感器工作原理的基础上,提出借助CMOS图像传感器代替传统的硅光电池检测莫尔条纹,完成信号的细分,实现对位移的高精度测量。文中介绍了整体电路的设计和单片机系统的硬件及软件流程。

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