作者：揣荣岩,崔林,王健,刘本伟,郑雁公,李新 单位：沈阳仪表科学研究院有限公司 出版：《仪表技术与传感器》2010年第02期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFYBJS2010020030 DOC编号：DOCYBJS2010020039 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 为使多晶硅纳米薄膜良好的压阻特性在MEMS(微机电系统)压阻传感器中得到有效应用，在设计牺牲层结构压力传感器芯片中探索性地采用了多晶硅纳米薄膜作为应变电阻，并给出这种传感器的设计方法。分析了牺牲层结构弹性膜片的应力分布对传感器灵敏度的影响，优化设计了量程为0~0.2 MPa多晶硅纳米膜压力传感器芯片的结构参数。有限元法仿真结果表明：在保证传感器灵敏度大于50 mV/(MPa.V)的前提下，零点温漂系数可小于1&#215；10-3FS/℃；灵敏度温漂(无电路补偿)可小于1&#215；10-3FS/℃.为高灵敏、低温漂、低成本的高温压力传感器集成化发展提供了一条可行途径。

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