作者:张红艳,徐鹏,张瑜 单位:成都市计量监督检定测试院 出版:《计量与测试技术》2010年第02期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJLYS2010020230 DOC编号:DOCJLYS2010020239 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在存储测试领域,对存储测试产品的考核越来越严格。通常情况人们对传感元件的校核极为重视。通主要关心传感元件的独立特性,如灵敏度、线性度、频率响应等等,然而实际的测试系统不但由传感元件组成,还有其他的一些串联系统,这些都会对测试的结果产生影响,因此,对这些存储设备的校准需要研制一些特殊的校准设备。

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