《非均匀介质体中缺陷响应初探》PDF+DOC
作者:郑礼全,郑钢丰
单位:中国电子科技集团公司第二十六研究所
出版:《压电与声光》2009年第06期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFYDSG2009060460
DOC编号:DOCYDSG2009060469
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该文对非均匀介质固体中缺陷响应的研究,用多高斯光束(MGB)模型来表示入射超声波波束。在对缺陷响应的研究中,由于粗颗粒界面的散射作用,所以考虑到超声波在非均匀介质体中传播时的衰减以及相速度的频散特性。分析了不同尺寸的方形孔缺陷由于压电超声传感器距离其位置的不同对接收到回波信号的影响。
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