作者:王恒山,杨文陵,陈斌,何云峰 单位:四川省电机工程学会;四川电力试验研究院 出版:《四川电力技术》2008年第04期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSCDL2008040260 DOC编号:DOCSCDL2008040269 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 电容型设备介质损耗在线监测,每台被试设备配一只磁性耦合传感器,采样输出信号弱,传感器本身和信号传输电缆易受电磁干扰,不同地点受干扰的程度不同,在加上每个传感器角差的差异,往往同类同相介质损相近的被试设备的测量结果差别很大。为此,提出采用被试品末屏串接保护单元通过大容量的可控硅来控制测试通道通断的带电测试方法,能把磁性耦合传感器移到测试仪器内,实现所有的被试品使用同一传感器和统一的通道测试,不仅可用绝对值法测试,还可用相对比较法测试,降低了几个干扰因素的影响。采用该方法在现场大量的测试数值表明可信、可比、稳定,能有效地判断电容型设备的绝缘状况。

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