作者:冉文,全力,张铭,郭慧浩 单位:上海电器科学研究所(集团)有限公司 出版:《电器与能效管理技术》2008年第11期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDYDQ2008110050 DOC编号:DOCDYDQ2008110059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 建立了一个断路器分合速度测试系统并对其进行了分析。该系统使用了一片可编程逻辑门阵列芯片及一个加速度传感器模块,配合相应的外围电路对断路器分合速度进行测试,是一个断路器测试片上系统解决方案。

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