作者:姜伶斌,刘思颂,党正强 单位:中国测试技术研究院 出版:《中国测试》2008年第03期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSYCS2008030430 DOC编号:DOCSYCS2008030439 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为解决传统的高精度A/D测量电路中需要在A/D前端搭建多级放大器而带来的成本及检测过程中的漂移问题,采用24位超低噪声模数转换器ADS1232,并在设计过程中使用了多种单片机抗干扰措施,设计出来的高精度测试仪器在硬件和软件上都得到了简化,该系统可以得到一个可靠的高精度的测量结果,解决了桥接传感器的前端问题。实践表明,该系统工作稳定,性能良好。

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