作者:赵太新,韩峰,王彦平 单位:中国测试技术研究院 出版:《中国测试》2007年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSYCS2007010190 DOC编号:DOCSYCS2007010199 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 近年来,图像处理在微小变形的测量中应用越来越广泛,它具有方便灵活、对被测对象没有任何伤害等优点,且只需对被测对象进行拍照,然后对图像进行处理分析,利用亚像素法原理即可精密测量出试样的微小变形。因此,利用AT89C51与CMOS图像传感器OV5017组成DMA方式数据采集系统,FT245BM虚拟USB口与PC机通讯,实现了对纵向和横向两个方向微小变形的无接触精密测量,且精度高成本低。

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