作者：赵曦,贾曦,黄荐渠 单位：中国仪器仪表学会;上海工业自动化仪表研究院 出版：《自动化仪表》2007年第11期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFZDYB2007110050 DOC编号：DOCZDYB2007110059 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 为了解近年来长度测量技术的发展现状，综述了从天文尺度到微观尺度各数量级长度量的测量方法。介绍了包括天体距离、常规尺度长度量以及微观尺度长度量的测量中所涉及的光学测量和电学测量中各测量方法的基本原理。重点介绍了纳米尺度的位移测量方法，并展望了长度量测量仪器更高精度化和微型化的发展趋势。

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