作者:陈德为,张培铭 单位:中国科学院电工研究所 出版:《电工电能新技术》2007年第02期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDGDN2007020130 DOC编号:DOCDGDN2007020139 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文介绍了基于MSP430-CPLD控制模式的光机电转动式电器动态特性测试装置的软硬件结构、功能、特点。该装置对转动式电器动态过程进行了实时检测,从而为进一步研究、分析电器的动态特性,实现电器的最优控制,大幅度提高其性能指标发挥作用。

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