作者：张秋,李博 单位：中国电子技术标准化研究所 出版：《信息技术与标准化》2015年第08期 页数：2页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZBZ2015080090 DOC编号：DOCDZBZ2015080099 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 6月10~12日，2015年度IEC TC47/SC47E(半导体分立器件分技术委员会)和SC47F(MEMS分技术委员会)工作组会议在新加坡召开，由工信部电子工业标准化研究院、航天704所、北京大学等相关单位组成的中国代表团参加了此次会议。1 SC47E会议SC47E/WG1负责半导体传感器领域的标准化工作，召集人为韩国专家Sekwang Park。韩方专家介绍了计划在2015年10月白俄罗斯明斯克年会上提出的

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