作者:赵兴龙 单位:中国兵工学会;北京理工大学;中国北方光电工业总公司 出版:《光学技术》2014年第06期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGXJS2014060120 DOC编号:DOCGXJS2014060129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 对薄膜测厚系统进行了详尽剖析,从整体上论述了膜厚测量系统,研究了测厚系统中薄膜测厚仪的关键硬件电路,对薄膜测厚仪的软件流程进行了离散设计。以AVR单片机为核心处理器进行了数据采集和处理,设计并生产出了在线式光学薄膜厚度测量与监控系统。通过与实际膜厚进行对比实验,验证了薄膜测厚系统具有高精度、高稳定性和高可靠性,可应用于实际工业生产。

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