作者:高树国,是艳杰,岳国良,杨圆 单位:国网智能电网研究院 出版:《智能电网》2014年第11期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZNDW2014110120 DOC编号:DOCZNDW2014110129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 介质损耗因数(简称“介损”)和电容量带电测试技术对于发现电容型设备的绝缘缺陷十分有效,因而得到了广泛的应用。从发展历程、编制背景、检测原理、信号取样、检测周期、参考设备选择、检测过程、数据分析和典型应用等方面,解读电容型设备介损和电容量带电测试技术现场应用导则,为指导设备现场带电检测提供重要依据。

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