作者:李静,姚素英,聂凯明 单位:华北计算机系统工程研究所 出版:《》 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZJY2014010170 DOC编号:DOCDZJY2014010179 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 提出了一种应用于CMOS图像传感器中的高速列级ADC。采用单斜ADC与TDC结合的方法,先将模拟电压信号转换为成比例的时间段,再通过TDC量化为相应的数字码,其转换时间主要取于TDC的量化范围,解决传统列级单斜ADC转换速率低的问题。设计采用0.18μm CMOS工艺。Spectre仿真表明,在模拟电路3.3 V、数字电路1.8 V的供电电压下,ADC的信噪失真比(SNDR)达到51.2 dB,整体功耗为1.76 mW,列级电路功耗为236.38μW,采样频率为1 MS/s,输入信号范围为1.6 V,满足CMOS图像传感器系统的应用要求。

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