作者：殷锡涛,郭兴敏 单位：中国电子学会;中国电子元件行业协会 出版：《电子元件与材料》2014年第09期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZAL2014090160 DOC编号：DOCDZAL2014090169 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 为了得出不同焙烧温度、工作温度及Pt负载条件下SnO2材料对H2的响应值与H2浓度间的定量关系。通过溶胶-凝胶法制备了SnO2纳米粉末，用丝网印刷制备以氧化铝陶瓷为基板的SnO2厚膜。分别用SEM、XRD及电化学工作站表征了SnO2的结构与形貌并测试了其气敏性能。结果表明，所制备的纯SnO2平均颗粒粒径约为60 nm，为四方相结构。焙烧温度越高，材料对H2的响应值越低，当焙烧温度为600~800℃时n值(响应值的对数与气体浓度的对数作图的斜率)不变；工作温度在200~400℃时，随着工作温度的升高n值降低；Pt负载SnO2与纯SnO2相比，Pt负载SnO2对H2的响应-恢复时间缩短，响应值提高，n值无明显变化。

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