作者:纪经涛 单位:中国统计出版社 出版:《中国高新技术企业》2014年第35期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFZGGX2014350430 DOC编号:DOCZGGX2014350439 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 文章阐述了GIS设备局部放电产生的原因,并详细分析了各种绝缘检测技术的优点与缺点,最后通过对某220k V GIS设备局放异常的处理过程,提出了较为有效的GIS设备局放异常分析方法。

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