《电应力加速退化试验技术及可靠性评估研究》PDF+DOC
作者：孙志旺,梁玉英,潘刚,张国龙,李伟
单位：中国测试技术研究院
出版：《中国测试》2014年第05期
页数：5页 （PDF与DOC格式可能不同）
PDF编号：PDFSYCS2014050360
DOC编号：DOCSYCS2014050369
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为探究电冲击对电子装备寿命的影响，选取电源通断瞬间产生的高压为电冲击加速应力，并以雷达某系统功能电路板为研究对象，开展电应力加速退化试验。通过对试验数据的统计分析，得到基于性能退化轨迹的伪失效寿命，并在Weibull分布条件下进行参数估计，提出基于电应力的电源开关通断电加速模型，并实现对某型雷达功能电路板的可靠性评估。
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