《硬标签质量参数检测传感器设计及测试》PDF+DOC
作者:蔡晓霞,盛庆元,朱丹
单位:中国仪器仪表学会;上海工业自动化仪表研究院
出版:《自动化仪表》2017年第03期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFZDYB2017030180
DOC编号:DOCZDYB2017030189
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电子商品防盗系统(EAS)中使用的一类硬标签核心电路由磁棒线圈和电容串联组成,LC谐振频率F和品质因数Q值是硬标签关键质量参数。针对该类硬标签参数检测的市场需求和传统双线圈检测方法存在的不足,提出了一种基于互感耦合原理,以亥姆赫兹线圈磁场为激励,采用差分和二级积分电路获取硬标签幅频特性信息的检测方法,搭建了硬标签参数检测传感器电路分析传感器检测F、Q值的理论模型。通过对市售58 k Hz硬标签试验数据的分析表明:该传感器F、Q值的绝对误差分别小于0.025 k Hz和1.3,其谐振频率测试性能明显优于市售EAS频率检测仪(E-X5006AM),性能满足行业测试要求。该传感器可为硬标签生产过程和质量检测提供F和Q值信息,具有行业实际应用价值。
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