作者:王大鹏,金星,周伟静,李南雷 单位:中国科学院上海光学精密机械研究所 出版:《激光与光电子学进展》2017年第10期 页数:8页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJGDJ2017100320 DOC编号:DOCJGDJ2017100329 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 针对微推力测量中电容位移传感器需要频繁标定非线性误差的问题,提出了一种基于激光干涉的现场标定方法。标定原理为:在直线位移台上同时调节可动角隅棱镜与测量目标的位置,进而改变干涉光路光程差及电容位移传感器极板间距,以激光干涉测量结果为基准,采用线性拟合方法,对传感器非线性误差进行标定。搭建了基于常用光学元件的干涉光路,对应用于微推力测量中不同量程的传感器进行标定。在分析干涉光强变化特点的基础上,确定了干涉条纹数计算方法,得到干涉光路的位移测量精度为66.5nm。实验验证了该校准装置的实用性和准确性,最后对标定结果、传感器输出非线性误差以及影响激光干涉测量精度的主要因素进行了分析,得到激光干涉测量总误差为67.2nm。

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