作者:袁爱国,李斌,陈健平,肖丽杰,晋冠平 单位:中国广州分析测试中心;中国分析测试协会 出版:《分析测试学报》2017年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFTEST2017040160 DOC编号:DOCTEST2017040169 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 采用电化学方法制备了纳米银/聚槲皮素修饰充蜡石墨电极(Ag/Qu/WGE)。以L-苏氨酸(L-Thr)为模板分子,将一定量的壳聚糖,L-Thr和Nafion的混合液涂布在Ag/Qu/WGE上,采用恒电位法电化学清洗除去模板分子L-Thr,得到基于壳聚糖/纳米银/聚槲皮素的L-Thr分子印迹复合膜修饰电极(TMIP/WGE)。采用场发射扫描电镜、红外光谱分析、X射线光电子能谱和电化学技术表征了TMIP/WGE的形成。TMIP/WGE对L-Thr具有良好的电催化氧化作用,可用于L-Thr的快速、灵敏检测,L-Thr的氧化峰电流(1.45 V)和其浓度在0.1~1.0μmol/L范围内呈良好的线性关系,检出限(3σ)为0.01μmol/L。该电极已成功用于苏氨酸发酵液中L-Thr的检测。

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