作者:Shigeo MATSUURA(NAKAMURA),Yoshinori TANIMOTO,王怡之 单位:中国机械工程学会;上海材料研究所 出版:《无损检测》1990年第09期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFWSJC1990090060 DOC编号:DOCWSJC1990090069 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 随着新材料、新技术的发展,人们迫切需要对新的产品进行各种检测。本文介绍的是一种最新型的工业X射线计算机断层分析扫描仪(简称工业X-CT扫描仪)以及一些实用的例子,这种仪器将能满足人们对一部分新材料的检测需要。

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