作者：丁中甲 单位：上海材料研究所 出版：《》 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFLHJH1982010280 DOC编号：DOCLHJH1982010289 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 公式推导从光谱定量分析的基本公式I=aC~b出发(其中C为杂质元素的含量；Ⅰ为杂质元素的谱线强度；b为发光云中该谱线的自吸，在微量元素的浓度下可视b=1：a是决定于试样性质和谱线性质的比例系数)，如果用Ⅰ_o表示比较线的强度，用Ⅰ_(?)表示杂质线的强度，那么，分析线对的谱线强度的比值可用下列形式表示：I_n/I_o=aC~b/I_o=a′C~b。其中a′=a/I_o由于采用均称的分析线对，故a′与分析条件下偶然波动的关系极小，在确定的工作条件下，

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