作者:何攀,刘才学,杨泰波,王瑶,彭翠云 单位:中国机械工业联合会科技工作部;机械与电子杂志社 出版:《机械与电子》2016年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFJXYD2016010150 DOC编号:DOCJXYD2016010159 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 提出了利用压电晶体逆压电效应作为标准声源的声发射传感器的性能检测方法。在此基础上,设计实现了基于比较检测法的泄漏声发射传感器性能检测系统,并应用到泄漏声发射传感器辐照后的性能检测中。检测结果和传感器使用效果表明,该方法用于声发射传感器性能检测是可行的。

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