作者:范迎新 单位:中国电子学会 出版:《电子技术与软件工程》2019年第19期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZRU2019190560 DOC编号:DOCDZRU2019190569 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文以航天薄膜压力传感器为例,详细介绍了SPC如何进行量化控制,并采用单值-移动极差控制图对薄膜压力传感器关键工艺进行统计分析,实践证明该方法对提高传感器生产质量有明显促进作用。

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