作者:孙景芳,李永倩,胡佩佩,张淑娥 单位:中国微米纳米技术学会;东南大学 出版:《传感技术学报》2019年第04期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGJS2019040100 DOC编号:DOCCGJS2019040109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 介电常数是材料的重要特性之一,采用互补开口谐振环微带传感器实现了不同厚度待测物质介电常数的无损测量。方形互补开口谐振环蚀刻在微带线接地平面上,与微带线耦合实现谐振,分析了谐振器的等效电路,讨论了介电常数与谐振频率之间的关系。通过有限元分析,谐振频率的负二次方与待测物质的介电常数实部值存在线性关系,且线性关系受待测物质的厚度影响;介电常数的虚部值对谐振频率的影响可忽略不计;最终建立了介电常数实部值与谐振频率和样本厚度之间的数学解析式。实验测试结果表明,当待测样品的厚度大于2 mm时,实部介电常数的相对测量误差小于3.5%。

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