作者:王海清,乔丹菊,冯军,于芳 单位:中国安全生产科学研究院 出版:《中国安全生产科学技术》2018年第12期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFLDBK2018120250 DOC编号:DOCLDBK2018120259 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 为了更准确量化安全仪表系统的误跳车率,基于联锁回路SIF中传感器、逻辑解算器、执行机构引发误跳车的不同失效机理和模型,考虑共因失效对误跳车率的影响,提出1种更符合实际并适用于异型Koo N结构的新子系统误跳车率计算模型(STR of Non-identical Redundant System,SNRS)。针对SIF回路的误跳车率计算,建立了1种分析安全联锁SIF回路误跳车率(Reliability based Spurious Trip,RST)的计算框架。研究结果表明:以某聚丙烯装置第三反应器保护系统为例,将SNRS和RST方法与目前主流的多种计算方法进行数值计算对比,验证了方法的有效性,能够有效进行定量分析。

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