《一种可容软错误的稳定性检测器》PDF+DOC
作者:汪海
单位:安徽科技情报协会;中国计算机函授学院
出版:《电脑知识与技术》2019年第02期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDNZS2019021090
DOC编号:DOCDNZS2019021099
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随着现代技术的大力发展,集成电路的可靠性日益严重。负偏置温度不稳定性引起的电路老化,高能粒子轰击组合逻辑电路产生软错误,是影响可靠性的两个重要因数。基于上述两个问题,设计了一种稳定性检测器,该稳定性检测器用于老化预测传感器中,用来检测集成电路老化情况。并且结构自身可以容软错误。
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