作者:姚文龙,何怀胜,杨道辉,李飞 单位:秦皇岛玻璃工业研究设计院 出版:《玻璃》2019年第01期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBLZZ2019010120 DOC编号:DOCBLZZ2019010129 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 在液晶玻璃生产过程中,采用激光测厚技术不仅可以大幅度提高玻璃基板品质厚度的测量频率,实现每片基板玻璃厚度一次测量;同时也能反映玻璃基板品质厚度实时的真实性,加快厚度异常对策效率,而且能有力的推动我国光电产业技术及玻璃基板品质的提升。以玻璃基板厚度为研究对象,对激光测厚系统在液晶玻璃基板中的应用进行分析。

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