作者:郭玉刚,饶浩,陶茂军,田雷,吴佐飞 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2018年第11期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2018110280 DOC编号:DOCCGQJ2018110289 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《用于恶劣环境的耐高温压力传感器(英文)》PDF+DOC2009年第06期 赵立波,赵玉龙 《基于MEMS工艺的SOI高温压力传感器设计》PDF+DOC2015年第09期 李丹丹,梁庭,李赛男,姚宗,熊继军 《一种MEMS高温压力传感器》PDF+DOC2016年第06期 王伟忠,何洪涛,卞玉民,杨拥军 《高温压力传感器现状与展望》PDF+DOC2002年第04期 张为,姚素英,张生才,刘艳艳,曲宏伟 《同时具有电压输出和频率输出的集成压阻压力传感器》PDF+DOC1985年第04期 S.Sugiyama,李华 《绝缘体上硅高温压力传感器研究》PDF+DOC2004年第02期 张为,姚素英,张生才,赵毅强,张维新 《多晶硅高温压力传感器的芯片内温度补偿》PDF+DOC2004年第01期 庞科,张生才,姚素英,张为 《多晶硅高温压力传感器的温度特性》PDF+DOC2002年第01期 张为,姚素英,张生才,曲宏伟,刘艳艳,张维新 《高温压力传感器温度特性的芯片内补偿技术》PDF+DOC2002年第02期 曲宏伟,姚素英,张生才,赵毅强,张为 《一种SOI高温压力传感器敏感芯片》PDF+DOC2014年第04期 王伟,梁庭,李赛男,洪应平,葛冰儿,郑庭丽,贾平岗,熊继军
  • 研制了一种基于微机电系统(MEMS)技术的压阻式绝缘体上硅(SOI)高温压力传感器芯片。压力敏感电阻器与衬底之间采用二氧化硅介质隔离,解决了传统的PN结隔离方式在高温条件下的漏电失效问题。研制的高温压力芯片压力量程为0~2 MPa,室温1 m A条件下满量程输出信号达到100 m V以上,非线性小于0.15%FS,压力迟滞小于0.05%FS。在-55~+150℃温度范围内,零点温度系数小于20μV/℃,灵敏度温度系数小于0.02%FS/℃,零点温度迟滞小于0.1%FS。将芯片样本在150℃环境下进行了短期零点时漂测试验证其稳定性,结果优于0.05%FS。

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