作者:詹争,黄云志,李柯 单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所 出版:《传感器与微系统》2017年第12期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGQJ2017120290 DOC编号:DOCCGQJ2017120299 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 平面电容传感器的性能指标由结构参数决定,如何优化结构参数使传感器达到良好的性能是传感器设计的关键。基于三维有限元仿真模型,研究了感应面积一定的条件下,电极对数、电极宽度与间距比对传感器信号强度、灵敏度及穿透深度的影响。采用神经网络方法优化结构参数,在保证穿透深度的条件下,获得较好的信号强度。研制了不同结构参数的PCB型平面电容传感器,并将其用于介电材料检测,实验结果证明了传感器参数优化测量的有效性。

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