作者:蔡凯杰,葛益娴,周俊萍 单位:中国电子科技集团第四十四研究所 出版:《半导体光电》2018年第05期 页数:6页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFBDTG2018050050 DOC编号:DOCBDTG2018050059 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 以双D型光纤作为传输载体,研究了一种基于表面等离子共振技术的双D型光纤折射率传感器。利用时域有限差分法,分析了双D型光纤剩余包层厚度、金膜厚度、金膜表面粗糙度以及双通道传输对光纤SPR传感器性能的影响。仿真结果表明,当剩余包层厚度为300~500nm、覆盖的金膜厚度为50nm时,双D型光纤SPR传感器的性能得到优化;金膜表面粗糙度也是影响传感器性能的重要因素,当金膜表面粗糙度的均方根值低于2nm或其相关长度大于160nm时,金膜表面粗糙度对传感器性能的影响显著减小,且在折射率为1.33~1.36的传感环境下具有较好的线性度;在双D型光纤两侧覆不同的金属膜,可以实现信号的双通道测量。

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