作者:李菊 单位:北京长城航空测控技术研究所 出版:《测控技术》2001年第07期 页数:3页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFIKJS2001070140 DOC编号:DOCIKJS2001070149 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 电容层析成像的敏感场分布对成像图像的质量有很大的影响。本文对影响电容层析成像敏感场分布的多种因素进行了讨论。

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