作者： 单位：信息产业部电子科学技术情报研究所 出版：《电子科技文摘》2001年第02期 页数：2页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDKWZ2001021100 DOC编号：DOCDKWZ2001021109 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 0102712用于高温等离子体电子密度测量的摩尔偏折仪[刊]/王琛//强激光与粒子束.—2000.12(4).—467～470(D)摩尔偏折测量术通过测量探针光束经过不均匀介质后光线的偏折来估算介质的折射率。基于这一理论，研制了实用的摩尔偏折仪，利用软 X 射线激光作为探针来探测高温高密等离子体的电子密度、结合软X 射线激光实验做了初步的演示。参5

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