作者:孙保良,邢福成,黄盛林 单位:北京无线电技术研究所 出版:《电子测量技术》2001年第03期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDZCL2001030100 DOC编号:DOCDZCL2001030109 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 文中介绍一种用于元器件温度筛选测试箱的设计方法。并给出系统硬件设计和软件设计。

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