《简易元器件温度测试箱设计》PDF+DOC
作者:孙保良,邢福成,黄盛林
单位:北京无线电技术研究所
出版:《电子测量技术》2001年第03期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDZCL2001030100
DOC编号:DOCDZCL2001030109
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文中介绍一种用于元器件温度筛选测试箱的设计方法。并给出系统硬件设计和软件设计。
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