《基于微石英晶振的静电力显微镜的设计》PDF+DOC
作者:郭文明,张鸿海,王志勇,汪学方
单位:武汉理工大学
出版:《武汉理工大学学报(信息与管理工程版)》2001年第04期
页数:3页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFWHQC2001040070
DOC编号:DOCWHQC2001040079
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描述了一种用于检测样品表面电荷分布的静电力显微镜 (EFM)。利用谐振频率为 32 .76 8kHz的未封装微石英晶振作为微力传感器 ,它在逼近试件表面过程中 ,振动特性发生变化。通过检测振动幅值的变化 ,并经过信号处理来获得样品表面电荷分布的信息。在分析了EFM检测原理的基础上 ,设计了EFM系统。
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