作者:G.Peters,W.Sll,崔运花,李毓陵 单位:东华大学 出版:《国际纺织导报》2000年第01期 页数:5页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGFZB2000010070 DOC编号:DOCGFZB2000010079 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 纺纱工艺过程中的杂质、灰尘量可提供大量与机器参数、机件磨损及成品布质量有关的信息。迄今为止 ,纺织市场上还无法商业性地对纱线中的杂质、灰尘颗粒进行可再现的、自动测试。本文介绍了两种适合完成这些任务的传感器(OI 测试杂质、灰尘颗粒的光学杂质传感器及OM 用于测定纱线直径、圆度及微细结构的光学多功能传感器 ) ,并介绍了UsterTester 4 SX。

    提示:百度云已更名为百度网盘(百度盘),天翼云盘、微盘下载地址……暂未提供。