作者: 单位:信息产业部电子科学技术情报研究所 出版:《电子科技文摘》2000年第03期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFDKWZ2000031080 DOC编号:DOCDKWZ2000031089 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • Y90-62039 00044721999年 IEEE 第16届仪器和测量技术会议录,卷1=Proceedings of 16th IEEE instrumentation and measure-ment technology conference,Vol.1[会,英]/IEEE In-strumentation and Measurement Society.—IEEE,1999.—606P.(UC)本次会议于1999年5月24日到26日在意大利威尼斯市召开。该会议录共有3卷,这是其中的第1卷,共收录论文111篇,其内容涉及:温度测量,电介质测量,智能传感器和接口,医学测量和仪器,微波测量,

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