作者:蒋庆全 单位:中国国际贸易促进委员会 出版:《世界产品与技术》1998年第03期 页数:2页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFSJCS1998030010 DOC编号:DOCSJCS1998030019 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
  • 本文介绍了适用于数字化传感器的Z—半导体元件的优良性能,也介绍了组合式测试系统在电子制造业中的应用前景。

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