《Z-元件与数字化传感器及组合式测试技术》PDF+DOC
作者:蒋庆全
单位:中国国际贸易促进委员会
出版:《世界产品与技术》1998年第03期
页数:2页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFSJCS1998030010
DOC编号:DOCSJCS1998030019
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本文介绍了适用于数字化传感器的Z—半导体元件的优良性能,也介绍了组合式测试系统在电子制造业中的应用前景。
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