数字射线检测技术（Word+PDF+ePub+PPT）
《射线数字检测技术》内容包括概述、辐射探测器与其他器件、数字射线检测基本理论、数字射线检测基本技术、工业常用数字射线检测系统、等价性问题、实验及附录。经过本次修订，本书在内容上构成了一个基本完整的数字射线检测技术知识系统，形成了比较清楚的Ⅱ级人员与Ⅲ级人员要求的区分界定。
前言
第1章概述
1.1数字射线检测技术的发展概况
1.2数字射线检测技术与胶片射线检测技术的区别
1.3数字射线检测技术基本理论
1.4等价性问题
1.5数字射线检测技术标准
复习题
第2章辐射探测器与其他器件
2.1辐射探测器概述
2.1.1辐射探测器的类型（*）
*2.1.2辐射探测器的一般特性
2.1.3辐射探测器系统
2.2辐射探测器系统的基本性能
2.3分立辐射探测器（DDA）
2.3.1非晶硅辐射探测器（*）
2.3.2非晶硒辐射探测器
2.3.3CCD或CMOS辐射探测器
2.3.4分立辐射探测器的性能（*）
2.4成像板系统（IP板系统）
2.4.1IP板（*）
*2.4.2IP板的主要特性
2.4.3IP板系统的基本性能（*）
*2.5图像增强器系统
*2.5.1图像增强器的基本结构
*2.5.2图像增强器系统的探测过程
*2.5.3图像增强器系统的主要性能
2.6A/D转换器
2.7射线检测的像质计与线对卡
2.7.1像质计概述
2.7.2常规像质计
2.7.3双丝型像质计（*）
*2.74线对卡
复习题
第3章数字射线检测基本理论
3.1数字图像概念
3.1.1数字图像的基本概念
3.1.2数字图像的空间频率
**3.1.3灰度
*3.1.4数字图像文件格式
3.2图像数字化基本理论
3.2.1图像数字化过程
3.2.2采样定理（*）
*3.2.3量化位数
3.3数字射线检测图像质量
3.3.1检测图像对比度
3.3.2检测图像空间分辨力（*）
3.3.3检测图像信噪比（*）
3.4检测图像与细节识别和分辨
3.4.1检测图像与细节识别的关系（*）
3.4.2检测图像与细节分辨的关系（*）
**3.5细节可识别性理论关系式
复习题
第4章数字射线检测基本技术
4.1概述
4.2探测器系统选择
4.2.1探测器系统概述
4.2.2探测器系统基本空间分辨力选择
4.2.3规格化信噪比选择
4.3数字射线检测透照技术
4.3.1透照技术控制概述
4.3.2最佳放大倍数（*）
4.3.3源到工件表面的距离（*）
4.3.4曝光曲线（*）
4.4图像数字化参数控制
4.5检测图像显示与缺陷评定技术
4.5.1图像显示与观察条件（*）
4.5.2图像观察识别技术
4.5.3缺陷识别与质量级别评定
4.5.4尺寸测量（*）
**4.5.5厚度测定
4.6数字射线检测图像质量控制
4.6.1检测图像质量参数控制
4.6.2图像质量的补偿规则（*）
*4.7数字射线检测技术级别近似设计
*4.7.1技术级别设计概述
*4.7.2检测图像常规像质计指标近似设计
*4.7.3检测图像不清晰度（空间分辨力）指标设计
*4.7.4例题
4.8数字射线检测技术稳定性控制
4.8.1检测工艺文件（检测程序文件）
4.8.2检测系统性能的长期稳定性试验控制
4.8.3检测工艺卡编制
复习题
第5章工业常用数字射线检测系统
5.1概述
5.2DR系统
5.2.1DR系统组成
5.2.2DR系统技术控制（*）
5.2.3探测器响应校正与坏像素修正（*）
5.2.4DR系统应用特点
5.3CR系统
5.3.1CR系统检测基本过程
5.3.2CR系统技术控制
5.3.3CR系统应用
*5.4图像增强器数字射线检测系统
**5.5微焦点数字射线检测系统
**5.6底片图像数字化扫描技术
**5.6.1扫描仪概述
**5.6.2扫描仪的基本性能指标
**5.6.3扫描技术
**5.6.4扫描仪选用
复习题
第6章等价性问题
6.1等价性问题概述
6.2等价技术级别评定
6.2.1等价技术级别评定概述
*6.2.2胶片射线照相检测技术的检测图像质量指标分析
*6.2.3等价技术级别评定过程
*6.2.4等价技术级别评定例题
**6.3等价性问题的理论处理方法
复习题
第7章实验
实验1DDA基本空间分辨力测定
实验2DDA规格化信噪比与曝光量平方根关系曲线测定
实验3DDA像素尺寸对缺陷检测的影响
实验4IP板图像读出扫描点尺寸对缺陷检测的影响
实验5曝光量对检测图像质量的影响
实验6最佳放大倍数试验
实验7曝光曲线制作
实验8图像软件使用
实验9DDA数字射线检测系统使用
实验10CR数字射线检测系统使用
附录
附录A辐射探测器的基础性知识
附录B采样定理说明
附录C数字图像增强处理技术简介
附录D动态数字射线检测技术
附录E射线检测技术系统的调制传递函数
附录F复习参考题答案
参考文献
