《硅霍尔传感器可靠性评审技术研究》PDF+DOC
作者:秦永烈,邹岳华,谢华钧,王幼学
单位:北京信息科技大学
出版:《传感器世界》1996年第07期
页数:4页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFCGSJ1996070150
DOC编号:DOCCGSJ1996070159
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本文提出对半导体传感器可靠性设计与工艺可靠性进行评审,并提出评审项目要点及步骤,从而达到主动地保证传感器的可靠性水平,并用可靠性验证试验检验这些可靠性保证措施的效果.主要讨论硅霍尔半导体传感器,并建议执行于生产中。
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