作者:秦永烈,邹岳华,谢华钧,王幼学 单位:北京信息科技大学 出版:《传感器世界》1996年第07期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFCGSJ1996070150 DOC编号:DOCCGSJ1996070159 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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  • 本文提出对半导体传感器可靠性设计与工艺可靠性进行评审,并提出评审项目要点及步骤,从而达到主动地保证传感器的可靠性水平,并用可靠性验证试验检验这些可靠性保证措施的效果.主要讨论硅霍尔半导体传感器,并建议执行于生产中。

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