作者：杨俊林,徐广智 单位：中国仪器仪表行业协会;北京市北分仪器技术有限责任公司 出版：《分析仪器》1996年第03期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFFXYQ1996030020 DOC编号：DOCFXYQ1996030029 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
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    • 利用自己设计的光声信号系统研究了薄膜激发态的非辐射衰减。在同样的实验条件下，通过比较样品和标准物质光声信号的积分面积，即可测得团体薄膜非辐射衰减的量子产率。测量时，只需要旋转样品及标准物质在光路上的方向，不需要将膜从传感器上揭下来。此装置可用来研究光学透明薄膜或厚膜。

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