作者：朱杰 单位：北京无线电技术研究所 出版：《电子测量技术》1994年第02期 页数：3页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFDZCL1994020040 DOC编号：DOCDZCL1994020049 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文详细介绍了在研制单片机控制的测温仪时采用查表法进行非线性校正的方法。实践证明：采用查表法可以实现对传感器全量程线性校正，具有独特的优点，对二次测量仪表的研制有普遍意义。

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