作者:朱延彬,徐兢 单位:中国仪器仪表协会上海光学仪器研究所 出版:《光学仪器》1991年第01期 页数:4页  (PDF与DOC格式可能不同) PDF编号:PDFGXYQ1991010030 DOC编号:DOCGXYQ1991010039 下载格式:PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑
《对表面粗糙度的非接触测量》PDF+DOC1990年第04期 朱延彬,徐兢 《基于光纤传感技术测量表面粗糙度》PDF+DOC2010年第02期 徐林,韩进宏 《表面粗糙度光纤传感器研究》PDF+DOC1995年第02期 周书铨 《光纤表面粗糙度传感器的研究》PDF+DOC1991年第04期 徐育,金泰义,李德庚,李胜利 《一种新型微位移光纤传感器》PDF+DOC1988年第03期 包学诚,陈雅贞 《用于测量表面粗糙度的光纤传感器特性分析》PDF+DOC1986年第04期 张鄂,黄烨炜 《基于光纤传感技术的油库罐区监测系统》PDF+DOC2005年第03期 叶茂 《一种二维微位移平台测量系统的研究》PDF+DOC2005年第04期 马静华,葛运建,吴仲城,孟明,沈春山,申飞,石振 《光纤位移传感器系统测量粗糙度的研究》PDF+DOC2004年第12期 张莉萍,余璆 《光纤传感器在纸币凹版印刷特征识别中的应用》PDF+DOC2006年第02期 蒋雁飞,雷玉堂,叶玉堂,王华明,唐浩,刘学智
  • 应用光纤传感技术设计一种新型光纤传感器。该传感器可用于表面粗糙度和微小位移的非接触测量。本文论述了其对微位移的测量。在该传感器特有的“零”工作点对信号采用差分放大处理,能实现对微位移的非接触测量,并具有纳米(10~(-?)m)级的分辨率。

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