《国家“七·五”项目“自扫描光电二极管列阵”通过技术鉴定》PDF+DOC
作者:吕果林
单位:重庆大学
出版:《重庆大学学报》1991年第01期
页数:1页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFFIVE1991010030
DOC编号:DOCFIVE1991010039
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《SSPD器件及其应用》PDF+DOC 孟爱萍,林勇,周晓燕
《CL—32—1、CL64型扫白描光电二极管列阵》PDF+DOC1995年第03期
《表面缺陷、孔径和形状传感器》PDF+DOC1992年第01期 张福学
《热冷带钢表面缺陷在线检测系统》PDF+DOC1994年第12期 谢图强,谢铁邦,唐良晶,李柱
《CCD彩色图象传感器》PDF+DOC1991年第01期 焦杰民
《在列间转移CCD图象传感器中的浅平p阱结构》PDF+DOC1987年第02期 陆立章
《CL型MOS图象传感器及应用》PDF+DOC1987年第04期 袁祥辉
《在生产线上用电荷耦合器件(CCD)阵列非接触测量复杂的几何量》PDF+DOC1986年第01期 Tilo Pfeifer,廖复中
《基于CMOS传感器的图象采集系统的设计》PDF+DOC2008年第02期 仲丛久,张芝贤,关宗安,李丽娜
国家“七五”科技攻关分专题项目“自扫描光电二极管列阵”90年9月21日在重庆大学通过鉴定。 自扫描光电二极管列阵,是一种新型的半导体固体图象传感器。该传感器是将光电二极管线阵、转换开关及扫描电路集成于同一硅片上构成,属于高技术产品。这类传感器可广泛用于工业自动控制中,作尺寸、位置、形状、表面缺陷等在线不接触检测,光学文字符号、图象识别,光谱能量检测,传真,摄像等应用。国防上可在导航、目标跟踪、空中侦察、卫星图片处理等方面应用。
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