作者：周训平 单位：中国电子科技集团公司第十三研究所 出版：《半导体技术》1988年第05期 页数：4页  （PDF与DOC格式可能不同） PDF编号：PDFBDTJ1988050160 DOC编号：DOCBDTJ1988050169 下载格式：PDF + Word/doc 文字可复制、可编辑

    • 本文主要介绍了碳化硅(SiC)的一些特性，以及碳化硅在传感器、发光二极管、晶体管等方面的应用。

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