《分部曝光 回归曲线法 光谱分析精密仪表合金》PDF+DOC
作者:孙锡孚
单位:国家仪表功能材料工程技术研究中心;重庆仪表材料研究所;中国仪器仪表学会仪表材料学会
出版:《功能材料》1989年第06期
页数:7页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFGNCL1989060110
DOC编号:DOCGNCL1989060119
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一、前言(1930)——Schrbe(1931)分别提出光谱分析基本实验式:I=ac~b。由于内标比较法的引入,即 R=I_1/I_2=ac~b,采用3个以上的标准样品,以 logR—logC 或△S—logC 制作校正曲线,进行元素成份分析。钱振彭由基本实验式出发,令 b=1,推出不同曝光时间
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