《連續曝光的分部曝光法光譜分析》PDF+DOC
作者:錢振彭,刘学镛,王秀兰
单位:上海材料研究所
出版:《》
页数:8页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFLHJH1964040020
DOC编号:DOCLHJH1964040029
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引論光譜分析一般需用三个或者三个以上的标准样品作工作曲綫而进行分析。由于标准样品不易获得,光譜分析工作者一直希望减少使用标准样品的个数以簡化工作。例如曾提出計算工作曲綫斜率的单标准試样法。在Cohuer的工作的基础上提出使用一个标准样品的分部曝光法。按照的方法,假如金屬或合金样品經过預燒以后,分析线及內标綫的
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