《温度和磁场对应变片的影响》PDF+DOC
作者:张宏
单位:中国科技大学
出版:《低温物理学报》1983年第02期
页数:6页 (PDF与DOC格式可能不同)
PDF编号:PDFDWWL1983020110
DOC编号:DOCDWWL1983020119
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电阻应变片的电阻不但随应变变化,而且随温度和磁场变化.为了修正温度和磁场的影响,在4.25K到300K的温度范围内,试验了镍铬合金电阻应变片WK-15-250BG-350的表观应变与温度的关系,并在不同磁场下试验了温度对应变片的影响.在低温下试验了应变片的表观应变与磁场的关系(即磁阻效应).分析了不同温度下,磁场对应变片的影响.试验结果将在TESPE装置的实际应变测量中进行误差修正。
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